Structural evolution in thermoelectric zinc antimonide thin films studied by in situ X-ray scattering techniques
Publikation: Bidrag til tidsskrift › Tidsskriftartikel › Forskning › fagfællebedømt
Dokumenter
- fc5044
Forlagets udgivne version, 1,81 MB, PDF-dokument
| Originalsprog | Engelsk |
|---|---|
| Tidsskrift | IUCrJ |
| Vol/bind | 8 |
| Udgave nummer | 3 |
| Sider (fra-til) | 444-454 |
| Antal sider | 11 |
| ISSN | 2052-2525 |
| DOI | |
| Status | Udgivet - 2021 |
Antal downloads er baseret på statistik fra Google Scholar og www.ku.dk
Ingen data tilgængelig
ID: 262737703